Highly Accelerated Stress Testing (HAST) adalah metode pengujian yang sangat efektif yang dirancang untuk mengevaluasi keandalan dan masa pakai produk elektronik. Metode ini mensimulasikan tekanan yang mungkin dialami produk elektronik dalam jangka waktu lama dengan memaparkannya pada kondisi lingkungan ekstrem – seperti suhu tinggi, kelembapan tinggi, dan tekanan tinggi – dalam jangka waktu yang sangat singkat. Pengujian ini tidak hanya mempercepat penemuan kemungkinan cacat dan kelemahan, namun juga membantu mengidentifikasi dan menyelesaikan potensi masalah sebelum produk dikirimkan, sehingga meningkatkan kualitas produk secara keseluruhan dan kepuasan pengguna.
Objek Uji: Chip, motherboard dan ponsel serta tablet yang menerapkan tekanan yang sangat cepat untuk merangsang masalah.
1. Mengadopsi struktur saluran ganda katup solenoid tahan suhu tinggi yang diimpor, semaksimal mungkin untuk mengurangi penggunaan tingkat kegagalan.
2. Ruang penghasil uap mandiri, untuk menghindari dampak langsung uap pada produk, agar tidak menimbulkan kerusakan lokal pada produk.
3. Struktur penyimpanan kunci pintu, untuk mengatasi produk generasi pertama jenis cakram pegangan yang mengunci kekurangan yang sulit.
4. Buang udara dingin sebelum ujian; uji dalam desain udara dingin buang (uji pelepasan udara barel) untuk meningkatkan stabilitas tekanan, reproduktifitas.
5. Waktu berjalan eksperimental yang sangat panjang, mesin eksperimental yang panjang berjalan 999 jam.
6. Perlindungan ketinggian air, melalui perlindungan deteksi Sensor ketinggian air ruang uji.
7. Pasokan air: suplai air otomatis, peralatan dilengkapi dengan tangki air, dan tidak terkena untuk memastikan sumber air tidak terkontaminasi.
